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電子・情報関連機器

更新日: 2021年11月18日
 
機器名称 写真 特徴 メーカー・機種 タグ 金額(円/時間)
10m法放射エミッション測定システム 10m法放射エミッション測定システム 車載機器および大型の電子機器から発生する電磁ノイズの測定が可能 計測評価ソフトウェア：東陽テクニカ
EMIテストレシーバー：Keysight Technologies  N9048B
アンテナ各種：ループ，ラージループ，バイコニカル，ログペリオディック，ホーン
疑似電源回路網：NARDA PMM   L3-32(１台), L2-16B(２台)
 
5600
3m法電波暗室測定システム 3m法電波暗室測定システム 電子機器から発生する放射電磁ノイズの測定，及び電子機器の放射電磁ノイズに対する耐性試験が可能 [放射エミッション測定]
（株）TSJ
TEPTO-DV/RE(測定ソフトウェア) 他
[放射イミュニティ試験]
（株）TSJ
TEPTO-EMS-X/RS(試験ソフトウェア) 他
4700
BCI試験システム BCI試験システム 車載機器のBCI (Bulk Current Injection)法による伝導イミュニティ試験 （株）東陽テクニカ
IM5/CS(試験ソフトウェア) 他
2000
FEM磁場シミュレータ FEM磁場シミュレータ
  • 試作前に特性の把握が可能
  • 電磁場の可視化が可能
  • 自動メッシュ作成機能
  • 設定パラメータ変更機能
ANSYS
Maxwell 3D
 550
FTB試験装置 FTB試験装置 IEC61000-4-4、及びJIS C 61000-4-4の電気的ファストトランジェント／バースト(FTB、EFT/B)試験が可能 (株)ノイズ研究所
FTB発生器・三相対応AC/DC電源ポート用CDN　FNS-AX4-B63
マルチコンセントボックス　18-00082A
容量性結合クランプ　15-00012A
ノーマルモード結合バラン　15-00013A
リモート制御ソフトウェア　FNS-AX4 RemoteW
 1000
LCRメータ LCRメータ
  • 低周波数で電子部品の性能指標の周波数特性を測定可能
  • DC バイアス印加が可能（最大±35 V，10 A）
  • より高周波数についてはネットワークアナライザを使用
Hewlett-Packard(HP)社
4285A
 500
アンテナ照射試験システム アンテナ照射試験システム 車載機器，民生機器，医用電気機器の放射イミュニティ試験（放射電波に対する耐性を確認する試験）が可能 試験ソフトウェア：東陽テクニカ
信号発生器：Keysight Technologies　N5171B
パワーアンプ：TESEQ　CBA 1G-1200D　80MHz-1GHz 1200W
パワーアンプ：TESEQ　CBA 6G-200D 1GHz-6GHz　250W
アンテナの種類：スタックドログペリオディック，ダブルリジッドガイド，ホーン
 
5000
インパルスノイズ試験装置 インパルスノイズ試験装置 インパルスノイズ試験が可能。 ノイズ研究所
INS-S420(インパルスノイズ試験器)、IJ-AT450(三相CDN)　など
 1000
インピーダンスアナライザ インピーダンスアナライザ
  • 電子部品の性能指標となる低周波数特性が測定可能
  • 高周波数特性についてはネットワークアナライザを使用
Hewlett-Packard(HP)社
4192A
 500
カー効果顕微鏡 カー効果顕微鏡 カー効果顕微鏡は磁性材料の磁気特性と密接な関係がある磁区構造を観察する顕微鏡です 。 面内・垂直方向の磁場を変化させながら被測定物に生じる磁区構造と磁区の境界にある磁壁の動きを観察することができる装置です 。 ネオアーク社　BH-762PI-MAE
 1100
ガウスメータ ガウスメータ
  • 30kG（3T） までの磁場測定が可能
  • プローブが約1mm厚のため、狭い場所の測定が可能
F.W.BELL
MODEL5180
 
 550
デジタルオシロスコープ デジタルオシロスコープ 電子回路などの電圧波形の観測 キーサイトテクノロジー社
DSOX4052A
 600
ハイパースペクトルカメラ ハイパースペクトルカメラ 100波長以上の分光イメージング撮影が可能 エバ・ジャパン㈱
NH-8，SIS-I
2400
ベクトルネットワークアナライザ（Ⅰ） ベクトルネットワークアナライザ（Ⅰ） Sパラメータ，誘電率，透磁率の測定 キーサイトテクノロジー社
P5007A
 1800
ベクトルネットワークアナライザ（Ⅱ） ベクトルネットワークアナライザ（Ⅱ）
  • Sパラメータ測定を実行可能。
  • シールド特性測定が可能。
Keysight Technologies社
E5071C
 800
ポータブル3Dデジタイザ ポータブル3Dデジタイザ 大型測定物の短時間での三次元形状計測 クレアフォーム社
ポータブル3Dデジタイザ　HandyScan700
 1300
リアルタイムスペクトラムアナライザ（Ⅱ） リアルタイムスペクトラムアナライザ（Ⅱ） 電磁ノイズなどの電気信号の振る舞い（周波数分布，時間推移）をリアルタイムで可視化 Tektronix社
RSA5126B(据置型)，RSA507A(ポータブル型)
 1700
二次元色彩輝度計 二次元色彩輝度計
  • XYZフィルタと高画素CCDを使用し，各種発光体の輝度分布や色度分布を効率良く測定可能
  • レンズを交換することにより，数cm～1m以上の様々な測定物に対応
コニカミノルタ
CA-2500A
1400
任意波形発生器 任意波形発生器 様々な種類（波形）の信号を生成 Hewlett-Packard(HP)社
33120A
 550
伝導EMC試験システム 伝導EMC試験システム 電子機器から発生する伝導性電磁ノイズの測定，及び電子機器の伝導性電磁ノイズに対する耐性試験が可能。 [伝導エミッション測定]
（株）東陽テクニカ
EP10/CE-AJ(測定ソフトウェア) 他
[伝導イミュニティ試験]
（株）テクノサイエンスジャパン(TSJ)
TEPTO-CS(試験ソフトウェア) 他
伝導EMC試験システム
 2100
外観検査用AIシステム 外観検査用AIシステム 与えたデータから学習し，以下の処理を自動で行う ・画像の分類，良否判定 ・特徴領域の検出 ・対象物の検出と分類 ・特徴点の検出 Future Processing 社　Adaptive Vision Studio
1200
振動試料型磁力計 振動試料型磁力計
  • 高感度な磁気特性の測定が可能
  • 薄板，粉末など，様々な形状の試料が測定可能
  • 低磁界域での高精度（磁界）測定が可能
玉川製作所
TM-VSM211483-HGC
 3000
振動試験装置 振動試験装置 振動試験（正弦波，ランダム波，SOR波）衝撃試験（正弦半波，台形波，のこぎり波，SRS合成波） 複合環境試験用恒温恒湿槽との併用による複合環境試験(-40<T<150℃) 加振軸方向切り替え可能 供試品の底辺５０ｃｍ程度まで対応可能 地震への耐性評価試験には適合しません。 エミック
F-35000BDHH/SLS36MS
2500
測定機能付精密電流・電圧源(ソースメータ) 測定機能付精密電流・電圧源(ソースメータ) I-V測定などのソース-メジャー測定が可能 Keithley Instruments社
2400
 650
熱ナノインプリント装置 熱ナノインプリント装置
  • 最高温度700℃での熱ナノインプリントが可能
  • 大気，真空，窒素雰囲気が選択可能
オリジン電気
Reprina T-50
 1600
熱衝撃試験機 熱衝撃試験機
  • 供試品に急激な温度差を繰り返し与えることにより，部品や製品の温度変化に対する耐久性評価が可能
  • 低温と高温を切り替える2ゾーン試験と，低温と常温，高温を切り替える3ゾーン試験が実施可能
エスペック（株）
TSA-103-ES-W
 650
磁場中熱処理装置 磁場中熱処理装置 磁場中熱処理装置は，物質材料を磁場中で熱処理する装置です。 磁場の印加により，材料中の磁化の向きや強さ（磁気異方性）を制御したり，内部構造の配向を制御することが可能です。 本装置を用いて，新しい磁性材料の開発や探索が可能になります。 東栄科学産業
TKSRMAO-25305
 1300
薄膜透磁率測定システム 薄膜透磁率測定システム 薄膜材料の高周波透磁率を測定可能 凌和電子
PMF-3000
 550
衝撃試験装置 衝撃試験装置 正弦半波の衝撃試験　比較的高いピーク加速度の衝撃の印加が可能 AVEX
SM-110-MP
700
複合環境試験用恒温恒湿槽 複合環境試験用恒温恒湿槽 製品の任意温度下での耐振動性の評価 エミック　VC-102DAMYS(33S)P3TH/V

  • 詳細情報⇒「」(WEB)


 1200
超低温恒温恒湿槽 超低温恒温恒湿槽
  • -70℃から150℃まで温度環境を設定可能
  • 一部の温度条件の下で湿度設定が可能
  • プログラム運転可
  • 通線口（直径５０ｍｍ）あり。通線口と安全端子間は４ｍ程度の線長が必要。
エスペック（株）
PSL-4J
タバイエスペック
PSL-2KPH
 600
車載機器用イミュニティ試験システム 車載機器用イミュニティ試験システム 車載機器，医用電気機器の放射イミュニティ試験（放射電波に対する耐性を確認する試験）が可能 放射イミュニティ試験ソフトウェア：東陽テクニカ　VI5/RS-AJ, IM5/CS-AJ
信号発生器：Keysight Technologies　N5171B
パワーアンプ：TESEQ　CBA 400M-260　10kHz-400MHz 30W
パワーアンプ：TESEQ　CBA 1G-030D  1GHz-6GHz　250W
パワーアンプ：TESEQ　CBA 6G-030D 1GHz-6GHz 30W
TEMセル：協立テクノロジー　TTC-502特
ストリップライン：TESEQ  SL50
アンテナ種類：1/4λスリーブ，ヘリカル，モービル，バイコニカル
ループコイル：TESEQ LAS6120,LAS6100
 
3700
車載機器用伝導エミッション測定装置 車載機器用伝導エミッション測定装置 国際規格CISPR 25 電圧法/電流プローブ法に準拠した車載用電子機器の伝導エミッション測定が可能 （株）テクノサイエンスジャパン
TEPTO-DV/AM(測定ソフトウェア) 他
1900
車載機器用放射エミッション測定装置 車載機器用放射エミッション測定装置 国際規格CISPR 25 ALSE法に準拠した車載用電子機器の放射エミッション測定が可能 （株）東陽テクニカ
EPX/VE(測定ソフトウェア) 他
1300
車載機器用試験電源 車載機器用試験電源 車載機器試験のEMC試験や電源シミュレーションに使用 エヌエフ回路設計ブロック
As-161-30/60
 800
通信プロトコル解析機能付きデジタルオシロスコープ 通信プロトコル解析機能付きデジタルオシロスコープ 各種シリアル通信（UART,I2C,SPI,CAN,LIN等）のプロトコル解析 Agilent Technologies
InfiniiVision MSO-X 3054A
550
過渡エミッション測定装置 過渡エミッション測定装置 車載用電子機器の電源投入や電源遮断により発生する電圧過渡現象を評価する、過渡エミッション測定が可能 TESEQ社
SC5501、AN5501、ES5501、MS5501
 1500
過渡サージ試験装置 過渡サージ試験装置 車両内で発生する様々な過渡的サージ現象に対する車載機器の伝導性イミュニティ試験が可能 （株）ノイズ研究所
Pulse 1/2a発生器 ISS-7610
Pulse 3a/3b発生器 ISS-7630
Pulse 2b/4発生器 BP4610
Pulse 5a/5b発生器 ISS-7650
SLOW Pulse発生器ISS-7610-N1229
制御用ソフトウェア ISS-7601
 1600
雷サージ試験装置 雷サージ試験装置 落雷により電力線や電話線に誘導された高エネルギーの雷サージを発生する試験器 （株）ノイズ研究所
LSS-F03
 750
電圧ディップ瞬時電圧変動試験装置 電圧ディップ瞬時電圧変動試験装置 電圧ディップ瞬時停電試験（IEC61000-4-11）が可能。 菊水電子工業（株）
DSI 3020
 750
電気安全規格試験装置 電気安全規格試験装置 電気用品安全法などの電気安全規格の各試験（AC/DC耐電圧試験、絶縁抵抗試験、アース導通試験、漏洩電流試験）が可能 菊水電子工業（株）
TOS9303LC
 800
電源ノイズアナライザ 電源ノイズアナライザ
  • 広帯域オシロスコープ(4 GHz)で波形観測可能
  • 基本ベクトル信号解析、デジタル変調解析が可能
  • ノイズ波形、あるいは任意波形を高周波信号発生器で再現可能
Keysight Technologies社
DSOS404A(広帯域オシロスコープ)，M8190A(高周波信号発生器)
 1400
電源周波数磁界イミュニティ試験装置 電源周波数磁界イミュニティ試験装置 電源電流の磁界による電子機器の誤動作，故障の発生の有無を確認 磁界発生装置:
narda STS、PMM1008
 1200
電源高調波・フリッカ測定装置 電源高調波・フリッカ測定装置 電子機器が電源品質に与える影響を評価 菊水電子工業
ラインインピーダンスネットワーク
LIN3020JF
高調波/フリッカアナライザ
KHA3000
 550
電磁界可視化システム 電磁界可視化システム 本機器を用いて電子機器/電子回路基板の近傍電磁界を可視化することによって、電磁ノイズ源の特定や電磁ノイズ対策の効果検証を簡易に行うことができます。 (株)ノイズ研究所
空間電磁界可視化システム(カメラ、可視化測定ソフトウェア)　EPS-02Ev3
Tektronix
リアルタイムスペクトラムアナライザ　RSA306B
Electro-Metrics
近傍電界・磁界測定プローブセット　EM-6992(EM-6993/EM-6994/EM-6995/EM-6996/EM-6997)
 1500
静電気放電イミュニティ試験装置 静電気放電イミュニティ試験装置 人体に帯電した静電気の放電による車載機器・電子機器の誤動作，故障の発生の有無を確認 （株）ノイズ研究所
ESS-S3011A
 800
非接触画像光学式三次元デジタイザ（FLARE） 非接触画像光学式三次元デジタイザ（FLARE） 全周囲３次元形状計測による製品検査・評価および設計参照用データの取得 東京貿易テクノシステム㈱ FLARE Pro 16M
 2800
顕微鏡機能付き赤外線サーモグラフィ 顕微鏡機能付き赤外線サーモグラフィ
  • 物体の表面温度分布を非接触で測定可能
  • 温度変化の様子を動画で記録可能
NEC Avio 赤外線テクノロジー
TVS-500EX
550

お問い合わせ

宮城県産業技術総合センター　企画・事業推進部　基盤技術高度化支援班
TEL:022-377-8700
相談受付フォーム
E-mail: soudan-itim@pref.miyagi.lg.jp