更新日: 2024年07月22日

微小部蛍光X線分析装置(μ-XRF)

特徴

試料の前処理なしに、そのまま元素分析が可能

● 大気・真空で試料をそのまま測定

● 貴重な試料も破壊・汚染せずに分析が可能

●炭素までの軽元素の検出と分析

● □20μm以下/ □150μmの点分析

●マッピング範囲190×160mm

●金属・樹脂上の微小異物分析

●薄膜の膜厚分析

機種

ブルカージャパン(株)

M4 TORNADOPLUS

2021年度導入

 

カテゴリー:

料金

使用料金:

¥3,000円(1時間あたり)

研究員による支援 3,900円/時
操作法説明 3,900円/時
時間外の機器利用料は2割増となります。

施設機器の利用制限

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説明

スペック・付属品等

  • 【主な仕様】

・ 分析元素:6 C ~ 95 Am(大気圧時:13 Al ~ 95 Am)

・ 最小分析領域:□20μm以下

・ 測定雰囲気:大気,真空(2mbar~)

・ OS: Windows 10 Professional

【サンプルについて】

1.幅350×奥行170×高さ120mm以内,質量7kg以内

2.試料前処理:なし

(検出部・試料室内を汚染しない状態で設置できること)

【注意事項】

ご利用申し込みは実施日の3日前まで可能です

 

【料金等】

研究員による支援 3,900 円 / 時
操作法説明:3,900 円 (1 時間)
分析依頼:定性分析: 8,400 円 / 測定 マッピング:3,400円 / 元素

 

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