第2回分析技術セミナー 「X線光電子分光装置の使い方実践編-試料表面の分析方法の実際-」


イベント詳細


概要

宮城県産業技術総合センターでは,令和4年度より開放開始する新しいX線光電子分光分析装置(XPS)を導入しました。開放に先立ち,日本エフイー・アイ株式会社(FEI)様の協力を得て,新XPSで何が判るか?どんな試料が測定できるか?など,実機を操作してデモを行う技術セミナーを実施します。是非御参加ください。

日時・場所の詳細

  • 日時:午前10:00~午後4:30(90分×3回の実機デモを行います)
  • 場所:産業技術総合センター2 階 R205 耐食試験室

研修案内チラシ

プログラム

  1. 試料の固定方法,試料搬送,分析位置決め方法
  2. ワイドスキャン,ナロースキャンの方法
  3. スペクトルの解析方法
  4. 試料排出,取り出し方法
  5. その他の分析(試料の種類や分析進行度により調整)

講 師

日本エフイー・アイ株式会社 齋藤 健氏

お申し込み

以下の必要事項をご記入の上,seminar@mit.pref.miyagi.jpまでお申し込みください。

  1. お名前(ふりがな)
  2. ご所属(会社名等)所属部署名・役職名
  3. ご連絡先 E-mail TEL
  4. 試料の種類(有機・無機・粉・繊維 主な成分)
  5. 試料サイズ(縦 mm×横 mm×高さ mm)
  6. 試料形状(画像を添付してください)
  7. ワイドスキャン以外に希望する分析(深さ方向分析・マッピング・角度分解・UPS)

申込みにあたり

  • 分析結果は宮城県の XPS 紹介ウェブサイトなどに掲載いたします。公表を前提とした試料をご準備ください。
  • セミナーの録画はご遠慮ください。
  • アンケートへの記入をお願いします。ご提供頂きました個人情報は宮城県と FEI の個人情報保護ポリシーに基づき管理し,今後のセミナー開催/マーケティング活動を行う上での基本情報を得るために利用します。それ以外の目的での利用及び第三者への情報提供は致しません。予めご了承ください。
  • 試料によっては分析不可能な場合がございます。受講決定前に詳細な打ち合わせをさせていただいた上,分析可能な場合に「受講決定」
    の連絡をさせていただきます。
  • 受講決定したお客様には担当者より連絡致します。試料と返送用の着払い伝票をご送付ください。
  • ワイドスキャン・ナロースキャン以外の分析については,セミナーの進行具合によってはご希望に添えない場合がございます。
  • 競合他社のご登録はお断りする場合がございます。

お問合せ・お申込先

宮城県産業技術総合センター 材料開発・分析技術部
製造プロセス技術班 阿部(一),宮本,水上
〒981-3206 仙台市泉区明通二丁目2番地
TEL 022-377-8700 FAX 022-377-8712
E-mail:seminar@mit.pref.miyagi.jp